Non Memory Semiconductor Test & Measuring System
HTHH Test System
HTHH Test System
Hot Chamber안에서 Chip에 정해진 전압과 전류를 시간에 따라 다르게 인가하면서
Chip 내부의 Impedance를 측정하는 시스템입니다.
- Maximum Test Socket
- 15
- Test Network
- LAN
- Test Temperature
- Maximum 120'C
- Test Impedance
- 10 Giga Ohm
- Test Profile
- 사용자가 시간에 따른 Test 방법을 설정할 수 있는 환경을 제공합니다.
- Test Data Summary
- Test Result History & Chart
- O/S
- Windows 10 Pro
