Non Memory Semiconductor Test & Measuring System
HTOL Test System
HTOL Test System
Hot Chamber안에서 Chip에 정해진 전압과 전류를 시간에 따라 다르게 인가하면서 모니터링하여
Chip의 특성 및 불량을 확인 하는 검사 시스템입니다.
- Maximum Test Socket
- 256
- Test Network
- CAN bus
- Test Temperature
- Maximum 120'C
- Forcing Voltage
- 0 ~ 5V ( Resolution : 0.01V)
- Forcing Current
- 0 ~ 300mA (Resolution : 0.1mA)
- Test Profile
- 사용자가 시간에 따른 Test 방법을 설정할 수 있는 환경을 제공합니다.
- Test Data Summary
- Test Result History & Chart
- O/S
- Windows 10 Pro
