Non Memory Semiconductor Test & Measuring System
DNC-3968L / Short Tester
DNC-3968L / Short Tester
반도체 Package Assembly 공정에서, 고밀도 및 적층구조의 Chip 제조가 증가함에 따라 X-Ray 등
기존 검사 방법으로는 시간, 인력 자원의 효율성이 떨어집니다.
이에 대한 해결책으로 Chip 제조 후 전압, 전류를 인가하여 고속으로 Chip 내부 회로의 Open & Short 불량을
검출해 내는 방법으로 생산 효율 및 품질 향상을 높혔습니다.
- Maximum Test Channel
- 3968
- Force Range
- DC -5mA ~ +5mA
- Measuring Range
- DC -5V ~ 5V
- Test Time (1 Channel)
- Minimum 1msec
- Maximum DUT
- 8
- Handler Interface
- RS232C / GPIB
- Dimension
- 600mm (W) X 950 (D) X 800(H)
- Test Algorithm
- Pin to Pin, Pin to Group, Group to Group
- Test Data Summary
- Test Result History
